最近，新思科技公司宣布，三星在其汽车集成电路上成功部署了新技术TestMAX™ XLBIST解决方案，为关键故障提供动态系统内测试。

    汽车技术的加速发展意味着需要更多的汽车芯片来满足自动驾驶和高级驾驶辅助系统的更高的ASIL要求。预计在未来几年，汽车集成电路的需求将比所有其他终端用户应用增长更快。

   新思科汽车设计解决方案TestMAX™ XLBIST使开发商能够提供行业领先的综合功能来实施功能安全机制。

    借助新思科新技术TestMAX™ XLBIST解决方案，三星能够高效实施动态系统内测试，并在车辆运行的关键阶段定期执行测试，包括通电、驾驶模式和断电。

    新思科TestMAX™ XLBIST作为一款允许不确定数字状态同时快速实现高故障覆盖率的自测解决方案，它使开发人员能够最大限度地缩短设计和实施的周转时间。

    新思科技TestMAX™ XLBIST解决方案，包括其他TestMAX产品，它们都三星RTL至GDSII汽车设计参考流程中非常重要的方案。

    新思科技TestMAX™ XLBIST解决方案提供非常高的系统内测试故障覆盖率，同时轻松满足最大允许测试时间。

    新思科技TestMAX™ XLBIST解决方案可以避免以前的系统内测试技术中常见的诸如迭代设计修改、显著的硅面积增加和更长的项目进度等问题。

    新思科技TestMAX™ XLBIST解决方案和TestMAX Access的结合可以通过嵌入式控制器实现低延迟上电自检，并通过中央处理器接口实现可配置的系统内测试。

    新思科技TestMAX™ XLBIST解决方案使用其他新技术TestMAX产品组合来提供基于RTL的测试性分析，以便尽早发现测试问题。插入物理传感测试点以提高故障覆盖率；和功耗感测测试向量生成，以满足系统级功耗目标。

    新思科技TestMAX产品系列支持全面的RTL至GDSII测试性设计实施流程(完全集成到NST融合平台中)，并提供行业领先的全面测试和可测性设计能力。